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多截断策略复数条纹二维 SVD 相位测量偏折方法-中国测试2026年08期

多截断策略复数条纹二维 SVD 相位测量偏折方法

作者: 沈奇超 ,谢芳俊 ,庄方翔 ,张冉冉 ,于瀛洁 ,汪彦枭 ,张本生 ,常林 字体:      

中图分类号: TB9; TH741

文献标志码: A

文章编号: 1674-5124(2026)08-0010-10

Multi-truncation complex-fringe two-dimensional SVD method for phase measuring deflectometry

SHEN Qichao 1 , XIE Fangjun 1 , (试读)...

中国测试

2026年第08期